| MEMS対応 純水減圧洗浄装置 |
| DIW Vacuum Cleaning System |
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主な目的は、MEMSなどエッチング処理後のイオン成分の除去・また狭い隙間に入った 微小な汚れを除去するものです。 超音波仕様ですが、純水による流体洗浄が可能になりデリケ−トな製品には最適です。 ( 超音波のダメ−ジから回避できます ) 対象 : MEMSウエハ− 3〜8インチ・様々な狭いピッチの基板等 ※ 乾燥はHFE仕様になります。 Remove ionic elements after etch process for MEMS, etc., and micro contamination in minimal space. Ultrasonic type, but capable of fluid cleaning with DIW. Most suitable for delicate products. (Possible to prevent damage by ultrasonic) For 3" - 8" MEMS wafer, various fine pitch substarte, etc. ※ Drying by HFE |
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(MEMS・ICパッケージ等狭ピッチ間洗浄) Cleaning / Drying / Joint inside inspection (Fine pitch cleaning for MEMS / IC package, etc) |
| その他の取り扱い検査装置/Other inspection system |
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IR透過検査装置・エッジ検査装置・クラック検査装置・イオン残渣検査機 IR transmission inspection system, Edge inspection system, Crack inspection system, Ionic residue inspection system |
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